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            X熒光光譜儀用途

            簡要描述:X熒光光譜儀用途
            能量色散 X 熒光光譜儀簡稱 XRF,是一種物理的元素分析方法。近年來 XRF 主要作為一種快速檢測手段在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業發揮了很大的作用。XRF 具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢。在環保領域和食品領域,XRF 通過直接測試的方法,快速篩選出樣品中的有害元素是否超出標準。

            • 產品型號:
            • 廠商性質:生產廠家
            • 更新時間:2025-03-05
            • 訪  問  量:1671

            詳細介紹

            品牌創新產地國產
            加工定制產地國產
            加工定制

            X熒光光譜儀用途

            XRF W7 對測試電鍍鍍層應用廣泛,可以測試鐵鍍鋅,鐵鍍鉻,銅鍍鎳金,銅鍍錫,……另外,XRF 在現場分析和過程控制分析等方面的應用很廣,例如廢舊金屬回收,土壤現場檢測,在線物料檢測等。XRF W7 產品應用測試是全開放式,在教學、科研實驗領域能夠帶來大的應用價值。

            X熒光光譜儀用途

            概述

            1.工業電腦、控制系統和信號處理整機集成,干擾降低,儀器運行穩。

            2.儀器采用更多符合實際樣品的標準樣品,相對分析的準確性更好。

            3. 采用真實 500 萬像素攝像頭,樣品觀察清晰,定位準確;

            4. 采用*元素二次強度提取算法,提高了微量元素的檢出限;

            5. 自定義的物料測試完成聲音提醒功能,方便操作人員多任務工作;

            6. 工作指示燈采用流水燈控制模塊,操作人員更直觀了解儀

            儀器狀態;

            7. 軟件集成多種模式的應用曲線。

            8. 同一軟件集成了成分分析和鍍層厚度分析。

            9. 核心配件獨立模塊設計,避免相互電磁干擾,提高了儀器的檢出限,降低了儀器的故障率;

            10. 多種語言軟件版本。

            2功能

            2.1 集成數據統計功能,方便品質部門通過篩選統計供應商、物料名稱、部件以及通過不同時間段測試狀況;

            2.2 提供開放式工作曲線標定功能,可為用戶量身定做很好的有害物質檢測方法和控制方案;

            2.3 軟件開機自檢與故障判斷功能,保證儀器始終在正常工作狀態下運行以及出現異常時及時排除;

            2.4 分析數據一鍵備份還原功能,避免因誤操作或其它原因造成的損失,保障數據及系統文件安全;

            2.5 根據用戶需求自行定制測試報告輸出格式(Excel 和列表等),符合工廠多種統計要求;

            2.6 具有核心硬件實時溫度監控功能,通過熱源分析設計與軟件實時控制,將硬件的熱量及時排出,減少探測器受溫度變化而產生的影響;

            2.7 支持大樣品測試功能,并有流程指引設計。

            產品參數

            元素分析范圍

            從硫 S-鈾 U 之間的元素

            重金屬有害元素/鹵素/八大重金屬等

            合金:銅材,鐵合金,鎳合金,錫合金,鈦合金,貴金屬

            鍍層:Ag/Sn/Au/Ni—Cu,Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe

            樣品范圍

            固體、液體、粉末;

            低檢出限

            輕基體有害元素 2ppm 左右。

            成分分析:0.01%--99.99%

            鍍層分析:0.0035um--40um

            測試時間

            60s-200s(軟件自動調整)

            X 射線源

            型號:GT-50-Mo

            生產廠家:東莞高天

            X 射線光管(*)

            窗口材料:金屬鈹

            X 光管適用壽命

            大于 20000 小時

            探測器

            型號100CR+ DP5+PX5

            生產廠家:美國 Amptek

            電制冷 Si-Pin 探測器

            分辨率 145ev±5

            1mil 鈹窗厚度(X123 由 100CR+DP5+PX5)

            高壓電源

            X3513

            咸陽威思曼生產

            0-50kev,0-2mA

            大 50W

            高壓保護措施

            過壓自保護,自恢復

            6 / 12

            高清晰攝像定位系統

            清晰精準

            集成工業計算機

            2G 內存,1.6G 雙核 CPU

            操作系統:Windows7 無需外接電腦

            準直器

            光斑φ1mm、3mm、4mm(軟件自動選擇)

            工作環境溫度

            溫度:15-30℃

            工作環境相對濕度

            ≤85% (不結露 No dew)

            輸入電源

            AC 220V±15%,50Hz

            額定功率

            128W

            儀器尺寸

            650mm*450mm*350mm

            樣品腔尺寸

            280mm*280mm*200mm

            重量

            約 32Kg

            輻射防護標準

            符合 GB18871-2002 GBZ115-2002 標準




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